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X-光年轮密度分析

    

详细信息仪器简介:
Itrax Multiscanner多用途X光扫描分析系统是利用XRF(X光荧光特性)和X光照相技术获得高精度数码图像的扫描分析设备。该系统利用X光透射成像能够获得检测样品的密度图像,进行年轮分析;利用XRF扫描检测多种元素含量,其中钾、钙等元素含量图像还可辅助识别不清晰的年轮。
组成:
1. X光发生系统
2. 标准LEF型X光显像管
3. PolyflatTM扁平X光束光学系统。
4. 可调X光束准直仪
5. 300×200 mm X/Y可移动电脑控制台
6. 线性排列的感应原件
7. 密度校准塑料楔
8. 操作台
9. 样品固定盘
10. 计算机
11. 平板扫描仪
12. 系统专用用户软件
13. 纸版用户手册
技术参数:
1. 分辨率:X光照相:20~200μm可选           XRF:50~200μm可选
2. 扫描宽度:X光照相:20mm      XRF:2mm
3. 扫描速度:X光照相:精度为20μm时每10cm需8分钟            XRF:精度为100μm时每10cm需3小时
4. 样品规格:直径小于280mm,厚度1~15mm(可选更厚) 样品固定盘可固定9条长不大于280mm,宽7-15mm 的条状样品
5. 操作台:780×800×1600 mm(长×宽×高),防尘、放辐射
主要特点:
1. 密度分析
2. 显微照相
3. 多种痕量元素分析,Mg、Al、Si、S、Cl、K、Ca、Ti、Ba、V、Cr、Mn、Fe、Ni、Cu、Zn、Br、Rb、Sr、Pb等
4. 可用于不同材料分析,如木材、洞穴堆积物(如钟乳石),泥炭块、岩心、沉积物等
5. 数据质量高
6. X光照相速度快
7. 可分析元素种类多
8. 集光学成像、数码X射线显微照相和XRF分析于一体
9. 仪器使用方便,能够在无人值守的情况下实现复杂的取样工作
10. 可用于多种形式的样品,包括木条、树木圆盘、木制板材
 

 
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