二、用途：
1. 密度分析；
2. 显微照相；
3. 多种痕量元素分析，Mg、Al、Si、S、Cl、K、Ca、Ti、Ba、V、Cr、Mn、Fe、Ni、Cu、Zn、Br、Rb、Sr、Pb等；
4. 可用于不同材料分析，如木材、洞穴堆积物（如钟乳石），泥炭块、岩心、沉积物等。
三、特点：
1. 数据质量高；
2. X光照相速度快；
3. 可分析元素种类多；
4. 集光学成像、数码X射线显微照相和XRF分析于一体；
5. 仪器使用方便，能够在无人值守的情况下实现复杂的取样工作；
6. 可用于多种形式的样品，包括木条、树木圆盘、木制板材。
四、技术指标：
1. 分辨率：X光照相：20~200μm可选，XRF：50~200μm可选
2. 扫描宽度：X光照相：20mm，XRF：2mm
3. 扫描速度：X光照相：精度为20μm时每10cm需8分钟，XRF：精度为100μm时每10cm需3小时
4. 样品规格：直径小于280mm，厚度1~15mm（可选更厚），样品固定盘可固定9条长不大于280mm，宽7-15mm
的条状样品
5. 操作台：780×800×1600 mm（长×宽×高），防尘、放辐射。
五、组成：
1. X光发生系统
2. 标准LEF型X光显像管(Cr阳极，适用于1-10mm)
3. PolyflatTM扁平X光束光学系统
4. 可调X光束准直仪
5. 300×200 mm X/Y可移动电脑控制台
6. 样品固定盘
7. 线性排列的感应原件
8. 用于密度校准的塑料楔
9. 用于安装以上设备的操作台
10. 高性能计算机
11. 平板扫描仪
12. 多用途X光扫描分析系统专用用户软件
13. 用户使用手册。
六、产地：欧洲
